金屬鍍層厚度儀使用高效而實用的正比計數盒和電制冷探測器，以實在的價格定位滿足鍍層厚度測量的要求，且全新的更具有現(xiàn)代感的外形、結構及色彩設計，使儀器操作更人性化、更方便。

喬邦鍍層合金XU-100分析儀性能優(yōu)勢

內置高清晰攝像頭，方便用戶隨時觀測樣品
脈沖處理器，數據處理快速準確
手動開關樣品腔，操作安全方便
三重安全保護模式
整體鋼架結構、外型高貴時尚
專用軟件，無標準樣品時亦可測量

喬邦鍍層合金XU-100分析儀技術指標

分析范圍： Ti-U，可分析3層15個元素
分析厚度：一般0.05-30um（不同元素厚度有所不同）
分析精度：多次測量穩(wěn)定性可達1%.
工作電壓：AC 110V/220V（建議配置交流凈化穩(wěn)壓電源）
測量時間：40秒（可根據實際情況調整）
探測器分辨率：（160±5）eV
光管高壓：5-50kV
管流：50μA-1000μA
環(huán)境溫度：15℃-30℃
環(huán)境濕度：30%-70%
準直器：配置不同直徑準直孔，小孔徑φ0.2mm
儀器尺寸：610（L）x 355（W）x 380（H）mm
儀器重量：30kg

(1)、對鍍層膜厚檢測、電鍍液分析可精準分析；
(2)重金屬檢測、槽液雜質檢測、水質在線監(jiān)測可進行快速檢測，檢測環(huán)境里的重金屬是否超標。
同時具有以下特點
快速：1分鐘就可以測定樣品鍍層的厚度，并達到測量精度要求。
方便：測試精度更高。并且不用液氮制冷，不用定期補充液氮，操作使用更加方便并且運行成本比同類的其他產品更低。
無損：測試前后，樣品無任何形式的變化。
直觀：實時譜圖，可直觀顯示元素含量。
測試范圍廣：X熒光光譜儀，是一種物理分析方法，其分析與樣品的化學結合狀態(tài)無關。對在化學性質上屬同一族的元素也能進行分析,抽真空可以測試從Na到U。
可靠性高：由于測試過程無人為因素干擾，儀器自身分析精度、重復性與穩(wěn)定性很高。所以，其測量的可靠性更高。
滿足不同需求：測試軟件為WINDOWS操作系統(tǒng)軟件，操作方便、功能強大，軟件可監(jiān)控儀器狀態(tài)，設定儀器參數，并就有多種*分析方法，工作曲線制作方法靈活多樣，方便滿足不同客戶不同樣品的測試需要。
性價比高：相比化學分析類儀器，X熒光光譜儀在總體使用成本上有優(yōu)勢的，可以讓更多的企業(yè)和接受。
簡易：對人員技術要求較低，操作簡單方便,并且維護簡單方便

分析軟件簡介                                  

功能介紹：快速地檢測金屬電鍍層的厚度

軟件界面簡潔，操作方便，無需專業(yè)人士操作

軟件帶有標樣校對功能，可以采用單標樣和多標樣，對無標樣的測試結果進行校對，使得測試結果更接近實際值

無標樣分析方法(FP法），測試不受標準樣品的限制

具有自動定性分析功能，自動元素識別功能，方便對樣品元素的識別和定性

具有疊加虛譜功能，方便作樣品的定性對比分析

分析儀測量標準

1國標GB/T 16921-2005/ISO 3497：2000

 金屬覆蓋層 覆蓋層厚度測量X射線光譜方法

2.美國標準A754/A754M-08

Coating Weight（mass）of Metallic Coatings on steel by X-Ray Fluorescence

鍍層厚度測試方法一般有以下幾種方法：

1 光學顯微鏡法。適用標準為：GB/T6462-2005

2 X-ray法（X射線法）。適用標準為：GB/T16921-2005

3 庫侖法，此法一般為仲裁方法。適用標準為：GB/T4955-2005

分析儀性能優(yōu)勢

下照式：可滿足各種形狀樣品的測試需求

準直器和濾光片手動切換：不同樣品材質用不同的準直器

移動平臺：精細的手動移動平臺，方便定位測試點

高分辨率探測器：提高分析的準確性

新一代的高壓電源和X光管：性能穩(wěn)定可靠，高達50W的功率實現(xiàn)更高的測試效率

應用范圍

金屬鍍層的厚度測量、電鍍液和鍍層含量的測定，RoHS檢測

鍍層合金分析儀用于彈簧、電子連接器、電子電器、螺栓和螺母、衛(wèi)浴、五金端子、螺絲、半導體封裝材料等產品ROHS及鍍層厚度測量。